pagina_banner

Poreuze keramische vacuümhouder voor het hanteren van kromgetrokken wafers

Poreuze keramische vacuümhouder voor het hanteren van kromgetrokken wafers

Korte beschrijving:

De poreuze keramische houder van St.Cera is vervaardigd uit zeer zuiver aluminiumoxide met een uniforme open porositeit van 30-45% en poriegroottes variërend van 10 tot 100 μm. In tegenstelling tot conventionele houders met groeven, zorgt het poreuze oppervlak voor een gelijkmatig verdeeld vacuüm over de gehele achterzijde van de wafer, waardoor kromgetrokken, dunne of losse wafers effectief worden vastgehouden zonder dat de randen loslaten of breken. Het zachte vacuüm (instelbaar via een restrictor) voorkomt bovendien beschadiging van de achterzijde.


Productdetails

Productlabels

De poreuze keramische houder van St.Cera is vervaardigd uit zeer zuiver aluminiumoxide met een uniforme open porositeit van 30-45% en poriegroottes variërend van 10 tot 100 μm. In tegenstelling tot conventionele houders met groeven, zorgt het poreuze oppervlak voor een gelijkmatig verdeeld vacuüm over de gehele achterzijde van de wafer, waardoor kromgetrokken, dunne of losse wafers effectief worden vastgehouden zonder dat de randen loslaten of breken. Het zachte vacuüm (instelbaar via een restrictor) voorkomt bovendien beschadiging van de achterzijde.

 

Specificaties(gebaseerd op 99,6% Al)O):

Eigendom Waarde
Porositeit 30–45%
Gemiddelde poriegrootte 10–100 μm (selecteerbaar)
Buigsterkte ≥250 MPa
Vlakheid (meer dan 300 mm) ≤5 μm
Oppervlakteafwerking Geslepen (Ra 0,8 μm)
Maximaal vacuümniveau -80 kPa
Bedrijfstemperatuur 400°C (lucht), 600°C (inert gas)
Materiaal 99,6% Al₂O₃, ZrO₂ of SiC

 

Toepassingen:

Slijpen van de achterzijde van dunne wafers (≤50 μm)

Gebogen waferhouder voor het snijden

Afzonderlijke matrijs oppakken van tape

Verwerking van glaspanelen

 

Productie en kwaliteit:

Keramisch poeder gemengd met organische porievormers → geperst → gesinterd → gepolijst tot de uiteindelijke dikte. Elke spankop wordt getest op vacuümuniformiteit (≤5% afwijking) en geïnspecteerd op poriegrootteverdeling (SEM). Vlakheid gemeten met een laserinterferometer.

 

Voordelen ten opzichte van klauwplaten met groeven:

Geen waferrandmarkering of chipverschuiving

Geschikt voor kromgetrokken wafers (tot 500 μm kromming).

Voorkomt verstopping van de vacuümopening

Zelfnivellerende drager voor dunne ondergronden

 

Aanpassing:

Ronde of rechthoekige vormen, afmetingen tot 600 mm. We kunnen randafdichtingsringen of vacuümzones aanbrengen. Versies met metalen achterkant zijn beschikbaar voor toepassingen met hoge stijfheidseisen.

 

Vraag een monster aan voor uw wafergrootte- en kromtrekkingstest.


  • Vorig:
  • Volgende: